海德漢直線光柵尺只需極小的安裝空間詳情如下：

海德漢直線光柵尺的突出特點(diǎn)是精度*和耐用性*。其高質(zhì)量的信號是由于采用了超精密的DIADUR測量基準(zhǔn)和高精度的單場掃描方法。它是*精度和極小單信號周期內(nèi)位置誤差編碼器的基礎(chǔ)。例如，海德漢LC系列直線光柵尺的細(xì)分誤差遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于100 nm。 從5圖可見，1,000個(gè)LC 183直線光柵尺連續(xù)測量的細(xì)分誤差的RMS值。85%測試的直線光柵尺的細(xì)分誤差的RMS值小于12 nm。新代LC 115直線光柵尺的RMS誤差小。
OHB Systems正在款地表監(jiān)測的全新超譜衛(wèi)星EnMAP。該衛(wèi)星中含5面反光鏡、6個(gè)棱鏡和三個(gè)攝像頭以及電子組件，且正在被準(zhǔn)確地安裝在狹小空間中，部件之間的空間通常僅十分之毫米。安裝期間，必須杜絕這些部件接觸，否則可能損壞這些敏感的部件。海德漢LIP 581直線光柵尺和POSITIP 880數(shù)顯裝置為其立下奇功。
正如“星際迷航”電影片頭中所說：“太空，Z后的疆域。”OHB的EnMAP衛(wèi)星項(xiàng)目經(jīng)理Gavin Staton和責(zé)任工程師Dave Mussett當(dāng)然希望他們在衛(wèi)星中能有多的空間，盡管“外太空浩瀚無垠，但衛(wèi)星時(shí)，我們實(shí)在無法獲得寬敞的空間。不僅如此，我們的任務(wù)是Z大限度地減少空間和重量。”因此，我們必須巧妙地利用安裝空間中的每個(gè)立方毫米，以Z大限度地減少衛(wèi)星的質(zhì)量和尺寸，確保衛(wèi)星在太空中和在陸地軌道上飛行。過程中，還必須保持*的穩(wěn)定性，這是該項(xiàng)目的難點(diǎn)，例如EnMAP衛(wèi)星內(nèi)迷宮般的布局。
桿、撐桿和敲擊—組裝中的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)
OHB Systems正在德國慕尼黑以西的WesslingEnMAP衛(wèi)星。A96高速公路上的大多數(shù)開車人在駛過不起眼的辦公樓前時(shí)都無法想象該樓內(nèi)的高科技程度。該辦公樓的外表面絲毫看不出這里是歐洲Z大的ISO 5級超凈車間，這里正在組裝EnMAP衛(wèi)星。準(zhǔn)確地說，在這里組裝部分而不是整個(gè)衛(wèi)星，Z初只組裝該項(xiàng)目的核心組件 - 光學(xué)設(shè)備。
核心組件位于其外殼內(nèi)，其底板由鋁塊銑削加工制成。其底座、外壁和內(nèi)撐桿組成高剛性的單元，在該單位內(nèi)安裝復(fù)雜的光電設(shè)備的所有其它部件并進(jìn)行連線。安裝件時(shí)，盡管空間較大，但只能從個(gè)方向接近該位置，也需要*的精度。較大傾角的撐桿嚴(yán)重限制運(yùn)動的自由度。
每增加個(gè)部件，工作區(qū)中的空間就減少些，直到可運(yùn)動的范圍減少到只有幾個(gè)百分之毫米。不僅光學(xué)組件—反光鏡、棱鏡和攝像頭—不允許相互磕碰，外殼、工具也不允許任何接觸，因?yàn)檫@些表面都非常敏感。即使輕微的劃傷也影響光學(xué)系統(tǒng)成像，甚至可能導(dǎo)致無法使用。“無法使入射光正確地衍射，無法準(zhǔn)確聚焦，反光鏡無法正確地為攝像頭導(dǎo)光。也就是說攝像頭無法接收完整光照和光譜，嚴(yán)重時(shí)可能無任何光線到達(dá)攝像頭。這將造成圖像變形或不可用，甚至*沒有圖像—這意味著EnMAP整個(gè)任務(wù)的失敗，”Gavin Staton介紹光學(xué)組件無差錯(cuò)安裝的重要性時(shí)說。
微米級高精度組裝的安裝工具
意大利Airworks為OHB工程師伸出援助之手，為OHB提供種特殊的安裝工具IOU-PIT（光學(xué)儀器高精度安裝工具）。在超凈車間剛開始看到這款高性能的儀器時(shí)，引人注意的是吊車起吊的重物，而不是這款安裝工具，這是高精度定位非常細(xì)小和輕質(zhì)部件的安裝工具，部件重量不超過20 kg。IOU-PIT體積相當(dāng)龐大，其尺寸達(dá)3040 mm x 2510 mm x 2300 mm和重量達(dá)2.5噸。難以的原因是IOU-PIT的要求十分嚴(yán)格，也就是說在超凈車間安裝和使用需要*的精度。方面需要*的機(jī)械剛性，另方面不允許使用超凈車間禁止使用的許多材質(zhì)。
IOU-PIT由位于意大利Monfalcone的Airworks工程師開發(fā)和。Airworks是個(gè)立的開發(fā)機(jī)構(gòu)，他們開發(fā)的高科技項(xiàng)目，包括航空航天項(xiàng)目，Stefano Picinich負(fù)責(zé)IOU-PIT設(shè)備。“實(shí)際上，關(guān)于IOU-PIT的主要機(jī)械系統(tǒng)的設(shè)計(jì)，我們接觸了多家定位系統(tǒng)的。不幸的是，項(xiàng)目要求太高，快速打消了他們對項(xiàng)目的興趣。Z后，我們無法找到個(gè)有勇氣將我們的設(shè)備轉(zhuǎn)換成實(shí)際工具的，”Picinich伴有苦笑地回憶開發(fā)過程時(shí)說。“因此，我們自己進(jìn)行，幸運(yùn)的是我們找到了測量技術(shù)海德漢，海德漢像我們樣沒有畏懼高精度的要求。”
海德漢直線光柵尺和數(shù)顯裝置—準(zhǔn)確地確定工具的頂端
海德漢增量式敞開直線光柵尺LIP 581以要求的高分辨率計(jì)算IOU-PIT各軸的位置值。該光柵尺提供位置值，在5 mm間距范圍上其基線誤差小于0.175 ?m和細(xì)分誤差僅±12 nm。而海德漢POSITIP 880數(shù)顯裝置顯示位置值。
IOU-PIT以兩個(gè)階段移動EnMAP衛(wèi)星的部件：由電機(jī)驅(qū)動的三個(gè)基本軸預(yù)定位部件，運(yùn)動速度無影響?？蛇x兩種運(yùn)動速度：1 mm/s和0.1 mm/s，或形象地說用蝸牛般速度和十分之的蝸牛般速度。IOU-PIT的Z大行程較大，達(dá)1250 mm x 1125 mm x 650 mm，500 mm行程上的Z大位置誤差僅50 ?m。
在到安裝位置的Z后幾毫米和幾微米位置時(shí)，以及在衛(wèi)星狹小工作區(qū)內(nèi)進(jìn)行運(yùn)動時(shí)，由OHB的技術(shù)員借助安裝工具*由手動方式操作。微米、微米地移動部件，穿過迷宮中已安裝的撐桿、部件和電纜直到達(dá)到Z終位置。“這期間，我們必須緊緊盯住要安裝的部件和數(shù)顯裝置，”Dave Mussett介紹這項(xiàng)精細(xì)的手動操作時(shí)說。“結(jié)果是我們設(shè)立了兩道保險(xiǎn)—先我們自己目視觀察物體，其次用顯示清晰的POSITIP 880顯示屏非常準(zhǔn)確地顯示位置值。”安裝過程每天都由OHB Systems進(jìn)行確認(rèn)，他們信賴Airworks的IOU-PIT安裝工具。到目前位置，全部部件都已準(zhǔn)確地安裝到位，而且毫發(fā)未損—這要?dú)w功于海德漢的直線光柵尺和數(shù)顯裝置。

海德漢直線光柵尺只需極小的安裝空間
EnMAP項(xiàng)目
EnMAP（環(huán)境遙感和分析計(jì)劃）是德國地表監(jiān)測的超譜衛(wèi)星項(xiàng)目。成像光譜儀測量由地表反射的太陽光輻射，光譜范圍從可見光到短波紅外線，以地描述地表狀況及其變化。這樣可以反映范圍的環(huán)境、農(nóng)業(yè)、土地利用、水資源管理和地質(zhì)方面的變化。
EnMAP衛(wèi)星攜帶的成像光譜儀可以用250個(gè)窄帶的連續(xù)光譜繪制地表圖。因此，EnMAP衛(wèi)星提供有關(guān)植被、土地利用、巖石面和水資源的量化和診斷信息。這些信息也提供巖石的礦物成份、空氣污染對植被壽命的影響以及土壤污染的程度。
該衛(wèi)星在650公里的軌道上記錄地表掃描的數(shù)據(jù)，掃描分辨率為30 x 30米。該衛(wèi)星可沿垂直于飛行方向進(jìn)行不超過±30度的傾斜，在同個(gè)地點(diǎn)進(jìn)行4天的比較性觀測，為此EnMAP非常適用于記錄空間-時(shí)間變化，例如植被的侵害過程或周期。光譜地表觀測提供信息，不同的自然環(huán)境如何形成生態(tài)系統(tǒng)以及如何擴(kuò)散—例如受人影響的海岸帶和人文景觀以及草原、沙漠和森林區(qū)。
EnMAP項(xiàng)目由位于波茨坦的德國地學(xué)研究中心（GFZ）負(fù)責(zé)科學(xué)指導(dǎo)，DLR宇航中心負(fù)責(zé)該項(xiàng)目的整體管理。OHB Systems是整個(gè)項(xiàng)目的主要承包，開發(fā)的超譜遙感衛(wèi)星，包括儀器和飛行器線。位于德國奧伯法芬霍芬的DLR負(fù)責(zé)建立和設(shè)立地面設(shè)施。衛(wèi)星的操作和數(shù)據(jù)接收由德國太空控制中心（GSOC）及德國遙感數(shù)據(jù)中心（DFD）和遙感技術(shù)研究院（IMF）共同執(zhí)行。
已為OHB Systems完成的工作，該是EnMAP的主承包，也是與DLR簽訂合同的合同方，資金來自德國聯(lián)邦經(jīng)濟(jì)事物和能源部，該項(xiàng)目參考號為50 EP 0801。